Oficina española de Patentes y Marcas

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Contacte
  • Mapa web
minetur OEPM
Sede Electrónica
    Educación y PI
  • INICI
  • Marques i
    Noms Comercials
  • INVENCIONS
  • Els Dissenys Industrials
  • Propietat industrial
  • Sobre l'OEPM
  • Informació tecnològica
  • Ets a :
  • Invencions
  • Cerca per núm. d'expedient
  • Patents nacionalsque es
    • Manual del sol ·licitant

    • Taxes i formularis
    • Tràmits en línia
    • Normativa
    • Fullets
    • Més informació
    • Directrius d'examen de sol·licituds de patent
    • Programa per a la concessió accelerada d'una patent nacional (CAP)
  • Model d'utilitatque es
    • Manual del sol ·licitant

    • Taxes i formularis
    • Tràmits en línia
    • Normativa
    • Fullets
    • Recomanacions
    • Directrices de Tramitación de modelos de utilidad
  • Topografies de Productes Semiconductorsque es
    • Taxes i formularis
    • Tràmits en línia
    • Normativa
    • Fullets
  • Certificat complementari de proteccióque es
    • Taxes i formularis
    • Normativa
    • Més informació
  • Sol·licituds Internacionals PCTque es
    • Taxes i formularis
    • Tràmits en línia
    • Normativa
    • Fullets
    • Directrius de Recerca Internacional i d'Examen Preliminar Internacional PCT
    • Recomanacions
  • Patent europeaque es
    • Taxes i formularis
    • Tràmits en línia
    • Normativa
    • Fullets
    • Recomanacions
    • Validación
  • Einesque es
    • IPscore
    • Classificació Internacional de Patents (CIP)
    • Manual de l'Inventor de l'OEP
    • Informació tecnològica

Invencions

Invencions

  • Cerca simple
  • Cerca avançada
  • Cerca per núm. d'expedient
    • Cerca per número d'expedient
    • Otras Búsquedas

      • Invenes
      • Espacenet
      • Latipat-Espacenet
      • PATENTSCOPE®
      • Expedientes digitalizados
      • Búsqueda GSA de invenciones
      • Datos con acceso abierto (Open Data)
      • CCD: Búsqueda de citaciones
    • Eines

      • Classificació Internacional de Patents (CIP)
      • Manual de l'Inventor de l'OEP
      • IPScore
      • Informació tecnològica
    • Preguntes freqüents

      • Com es pot obtenir una patent amb efectes a Espanya?
      • I si vull protegir una patent a l'estranger?
      • Per quins procediments de tramitació pot optar el sol·licitant per arribar a la concessió d'una patent a Espanya?
      • Quins requisits són necessaris per obtenir una patent o un model d'utilitat?
      Veure totes
    • Enllaços d'interès

      • Informació de patents a Internet
      • Patents de biotecnologia
    • Notícies sobre invencions

      • 14-03-2013

        El Consejo Asesor de la EPO publica recomendaciones para mejorar el sistema de patentes.
         
      • 12-03-2013

        Nuevo servicio de información de la OEPM.
         

Enlaces de interés

Ajudes i subvencions

Perfil del contractant

Altres informacions

  • Estadístiques
  • Centres Regionals d'Informació en Propietat Industrial
  • Ocupació
  • Aula de Propietat Industrial
  • Internacionalització-PPH
  • Transferència de tecnologia
  • Enllaços i adreces d'interès

Portals OEPM

  • imagen de Qualitat Qualitat
  • imagen de Stopfalsificaciones Stopfalsificaciones
  • imagen de Arxiu Històric i Museu Arxiu Històric i Museu
  • imagen de CEVIPYME CEVIPYME

OEPM en la red

  • imagen de RSS
  • imagen de mI+D
  • imagen de YouTube
  • imagen de Scribd
  • imagen de Facebook
  • imagen de Twitter

Campañas

imagen de Marcas tu futuro imagen de Yo soy original imagen de Yo soy original

Suscripción a información

Darme de alta
  • Boletines Vigilancia Tecnológica
  • Cátedra Carlos Fernández-Nóvoa
  • PPH

Otra información

Powered by OpenCMS
  • Bústia del ciutadà
  • Avís legal
  • Accessibilitat
Aenor IQNet