Oficina española de Patentes y Marcas
Bienvenido
Benvinguts
Benvidos
Ongi etorri
Welcome
Contacte
Mapa web
Sede Electrónica
   
INICI
Marques i
Noms Comercials
INVENCIONS
Els Dissenys Industrials
Propietat industrial
Sobre l'OEPM
Informació tecnològica
Ets a :
Propietat industrial
Enlaces de interés
Centros Académicos y de Investigación
Formularis
Taxes
Consulta d'invencions
Invenes
Espacenet
Latipat-Espacenet
PATENTSCOPE®
Classificació Internacional de Patents
Consulta de marcas registradas
Localitzador de marques
TMView
Classificació Internacional de Productes i Serveis
Consulta de diseños
Invenes
RCD-Online
Hague-Express
Información Tecnológica
La Propietat Industrial
Beneficis de protegir signes distintius, invencions i dissenys
Publicacions
Normativa
Jurisprudencia
Protección internacional
Agentes de la propiedad industrial
Actuaciones frente a la piratería industrial
Preguntas más frecuentes
Ponencias
Centros Académicos y de Investigación
Asociación de Investigación de la Industria Agroalimentaria (AINIA)
Centro Astronómico de Yebes
Centro de Estudios y Experimentación de Obras Públicas (CEDEX)
Centro de Investigaciones Energéticas, Medio-Ambientales y Tecnológicas (CIEMAT)
Colección Española de Cultivos Tipo (CECT)
Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC)
Instituto de Acústica (IA)
Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM)
Instituto Tecnológico Metalmecánico (AIMME)
Magister Lvcentinus
páginas de agenda
Pàgina
Anterior
Pàgina
1
Pàgina
2
Pàgina
Següent
Enlaces de interés
Ajudes i subvencions
Perfil del contractant
Altres informacions
Estadístiques
Centres Regionals d'Informació en Propietat Industrial
Ocupació
Aula de Propietat Industrial
Internacionalització-PPH
Transferència de tecnologia
Enllaços i adreces d'interès
Portals OEPM
Qualitat
Stopfalsificaciones
Arxiu Històric i Museu
CEVIPYME
OEPM en la red
Campañas
Suscripción a información
Darme de alta