Oficina española de Patentes y Marcas

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Contacte
  • Mapa web
minetur OEPM
Sede Electrónica
    Educación y PI
  • INICI
  • Marques i
    Noms Comercials
  • INVENCIONS
  • Els Dissenys Industrials
  • Propietat industrial
  • Sobre l'OEPM
  • Informació tecnològica
  • Ets a :
  • Propietat industrial
  • Formularis
  • Les invencions
    • Formularis
    • Taxes
    • Consulta d'invencions
      • Invenes
      • Espacenet
      • Latipat-Espacenet
      • PATENTSCOPE®
      • Classificació Internacional de Patents
    • Consulta de marcas registradas
      • Localitzador de marques
      • TMView
      • Classificació Internacional de Productes i Serveis
    • Consulta de diseños
      • Invenes
      • RCD-Online
      • Hague-Express
    • Información Tecnológica
    • La Propietat Industrial
    • Beneficis de protegir signes distintius, invencions i dissenys
    • Publicacions
    • Normativa
    • Jurisprudencia
    • Protección internacional
    • Agentes de la propiedad industrial
    • Actuaciones frente a la piratería industrial
    • Preguntas más frecuentes
    • Ponencias

Les invencions

Cercador de formularis

Resultats de la cerca

  • Patent Nacional
  • Model d'utilitat
  • Certificat complementari de protecció
  • Patent Europea
  • Sol·licitud internacional PCT

páginas

  • PàginaAnterior
  • PàginaSegüent

Enlaces de interés

Ajudes i subvencions

Perfil del contractant

Altres informacions

  • Estadístiques
  • Centres Regionals d'Informació en Propietat Industrial
  • Ocupació
  • Aula de Propietat Industrial
  • Internacionalització-PPH
  • Transferència de tecnologia
  • Enllaços i adreces d'interès

Portals OEPM

  • imagen de Qualitat Qualitat
  • imagen de Stopfalsificaciones Stopfalsificaciones
  • imagen de Arxiu Històric i Museu Arxiu Històric i Museu
  • imagen de CEVIPYME CEVIPYME

OEPM en la red

  • imagen de RSS
  • imagen de mI+D
  • imagen de YouTube
  • imagen de Scribd
  • imagen de Facebook
  • imagen de Twitter

Campañas

imagen de Marcas tu futuro imagen de Yo soy original imagen de Yo soy original

Suscripción a información

Darme de alta
  • Boletines Vigilancia Tecnológica
  • Cátedra Carlos Fernández-Nóvoa
  • Escuela de Organización Industrial

Otra información

Powered by OpenCMS
  • Bústia del ciutadà
  • Avís legal
  • Accessibilitat
Aenor IQNet