Oficina española de Patentes y Marcas

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Contacte
  • Mapa web
minetur OEPM
Sede Electrónica
    Educación y PI
  • INICI
  • Marques i
    Noms Comercials
  • INVENCIONS
  • Els Dissenys Industrials
  • Propietat industrial
  • Sobre l'OEPM
  • Informació tecnològica
  • Ets a :
  • Propietat industrial
  • Preguntas frecuentes
    • Formularis
    • Taxes
    • Consulta d'invencions
      • Invenes
      • Espacenet
      • Latipat-Espacenet
      • PATENTSCOPE®
      • Classificació Internacional de Patents
    • Consulta de marcas registradas
      • Localitzador de marques
      • TMView
      • Classificació Internacional de Productes i Serveis
    • Consulta de diseños
      • Invenes
      • RCD-Online
      • Hague-Express
    • Información Tecnológica
    • La Propietat Industrial
    • Beneficis de protegir signes distintius, invencions i dissenys
    • Publicacions
    • Normativa
    • Jurisprudencia
    • Protección internacional
    • Agentes de la propiedad industrial
    • Actuaciones frente a la piratería industrial
    • Preguntas más frecuentes
    • Ponencias

Preguntas frecuentes

Buscador de preguntas frecuentes

Resultats de la cerca

S'han trobat els resultats següents per:

  • Modalitat: Tots:
  • Termini: Tots:
  • Quan es publiquen els resultats?
  • Com puc saber si la meva titulació és l'exigida?
  • Se celebra l'EQE a Espanya?
  • Què és una cartera de patents?
  • Què és el valor d'una patent?
  • Quant val una patent?
  • Què és exactament el que es valora?
  • Quines raons hi ha per realitzar la taxació d'una patent?
  • Per a qui es realitza la taxació?
  • Qui realitza la taxació?
  • Qui pot estar interessat en conèixer el valor d'una patent?
  • Quins serien bons indicadors del valor d'una patent?
  • Què diuen les estadístiques?
  • Com es mesura el valor d'una patent?
  • En què consisteix la taxació qualitativa i quan es fa servir?

páginas

  • PàginaAnterior
  • Pàgina 7
  • Pàgina 8
  • Pàgina 9
  • Pàgina 10
  • Pàgina 11
  • PàginaSegüent

Enlaces de interés

Ajudes i subvencions

Perfil del contractant

Altres informacions

  • Estadístiques
  • Centres Regionals d'Informació en Propietat Industrial
  • Ocupació
  • Aula de Propietat Industrial
  • Internacionalització-PPH
  • Transferència de tecnologia
  • Enllaços i adreces d'interès

Portals OEPM

  • imagen de Qualitat Qualitat
  • imagen de Stopfalsificaciones Stopfalsificaciones
  • imagen de Arxiu Històric i Museu Arxiu Històric i Museu
  • imagen de CEVIPYME CEVIPYME

OEPM en la red

  • imagen de RSS
  • imagen de mI+D
  • imagen de YouTube
  • imagen de Scribd
  • imagen de Facebook
  • imagen de Twitter

Campañas

imagen de Marcas tu futuro imagen de Yo soy original imagen de Yo soy original

Suscripción a información

Darme de alta
  • Escuela de Organización Industrial
  • Cátedra Carlos Fernández-Nóvoa
  • Boletines Vigilancia Tecnológica

Otra información

Powered by OpenCMS
  • Bústia del ciutadà
  • Avís legal
  • Accessibilitat
Aenor IQNet