Oficina española de Patentes y Marcas

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Contacte
  • Mapa web
minetur OEPM
Sede Electrónica
    Educación y PI
  • INICI
  • Marques i
    Noms Comercials
  • INVENCIONS
  • Els Dissenys Industrials
  • Propietat industrial
  • Sobre l'OEPM
  • Informació tecnològica
  • Ets a :
  • Sobre l'OEPM
  • Cooperació internacional
  • Visitas
    • Qui som
    • Estructura organitzativa
    • OEPM-Calidad
    • Memòries d'activitats i estadístiques
    • Cooperació internacional
    • Cooperación con Latinoamérica
    • Noticies
    • Agenda
    • Notes de premsa
    • Videoteca
    • Folletos Divulgativos
    • Aula de Propietat Industrial
    • Advertencias OEPM
    • Foro de Innovación y Patentes
    • Venda de làmines

Visitas

Resultats de la cerca

  • Visita de una Delegación de la Administración Estatal para la Industria y el Comercio de China. 11 de Septiembre de 2007

  • Visita a la OEPM de una Delegación de la Comisión Europea. 11 de octubre

  • Visita de un Delegación de la Dirección General del Registro de la Propiedad Industrial de Panamá. (DIGERPI). 18-19 de octubre

  • Visita de una Delegación de la Oficina de Propiedad Intelectual de China (SIPO). 29-30 de octubre

páginas

  • PàginaAnterior
  • Pàgina 12
  • Pàgina 13
  • Pàgina 14
  • Pàgina 15
  • Pàgina 16
  • PàginaSegüent

Enlaces de interés

Ajudes i subvencions

Perfil del contractant

Altres informacions

  • Estadístiques
  • Centres Regionals d'Informació en Propietat Industrial
  • Ocupació
  • Aula de Propietat Industrial
  • Internacionalització-PPH
  • Transferència de tecnologia
  • Enllaços i adreces d'interès

Portals OEPM

  • imagen de Qualitat Qualitat
  • imagen de Stopfalsificaciones Stopfalsificaciones
  • imagen de Arxiu Històric i Museu Arxiu Històric i Museu
  • imagen de CEVIPYME CEVIPYME

OEPM en la red

  • imagen de RSS
  • imagen de mI+D
  • imagen de YouTube
  • imagen de Scribd
  • imagen de Facebook
  • imagen de Twitter

Campañas

imagen de Marcas tu futuro imagen de Yo soy original imagen de Yo soy original

Suscripción a información

Darme de alta
  • PPH
  • Cátedra Carlos Fernández-Nóvoa
  • Escuela de Organización Industrial

Otra información

Powered by OpenCMS
  • Bústia del ciutadà
  • Avís legal
  • Accessibilitat
Aenor IQNet