MINISTERIO DE INDUSTRIA, TURISMO Y COMERCIO: Inicio

Oficina Española de Patentes y Marcas: Inicio

Imagen Noticia

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Inicio
  • | Contacto
  • | Mapa web
  • B.O.P.I.
  • Conócenos
    • Quiénes somos
    • Estructura organizativa
    • OEPM-Calidad
    • Memorias de actividades y estadísticas
    • Cooperación internacional
    • Cooperación con Latinoamérica
    • Contacto
    • Empleo
    • Perfil del Contratante
    • Más información sobre nosotros
    • Gabinete de Comunicación
    • Aula de Propiedad Industrial
    • Foro de Innovación y Patentes
  • Propiedad Industrial
    • ¿Qué es la Propiedad Industrial?
    • ¿Cúales son los beneficios de proteger las marcas y las invenciones?
    • Piratería Industrial
    • ¿Qué se puede proteger y cómo?
    • ¿Quiénes pueden asesorarnos y ayudarnos a gestionar los trámites?
    • Normativa y Jurisprudencia
    • Publicaciones
    • Ponencias de Propiedad Industrial
    • Ayudas
    • Enlaces y direcciones de interés
    • Preguntas frecuentes sobre Propiedad Industrial
    • Formularios
  • Modalidades
    • Las Marcas y los Nombres comerciales
    • Las Invenciones
    • Los Diseños Industriales
    • Las Topografías de Productos Semiconductores
  • Oficina Virtual






SEDE ELECTRÓNICA

Portales OEPM

  • Información Tecnológica
  • Calidad
  • Piratería
  • Archivo Histórico y Museo
  • PLAN π
  • CEVIPYME

Agenda OEPM

Noticias

Imagen Noticia Nuevo portal de la OEPM

Imagen Noticia Del 11 al 15 de julio: Curso de verano OEPM-UIMP. 6ª Edición SEMIN...

Imagen Noticia Nuevo portal de la OEPM en versión beta

Imagen Noticia Publicación de los requerimientos de subsanación de defectos del programa de a...

Ver más noticias

Bases de datos

  • Localizador de marcas
  • Situación de expedientes
  • Invenciones y Diseños en español: INVENES
  • Invenciones en otros idiomas: Espacenet
  • Invenciones en España y Latinoamérica: Latipat
  • Clasificación Internacional de Patentes
  • Clasificación Internacional de Productos y Servicios (Marcas)
  • TMView: Marcas en Europa
  • Base de datos de Jurisprudencia
  • Expedientes digitalizados

Servicios de Información Tecnológica

  • Informes Tecnológicos de Patentes
  • Informes de Vigilancia Tecnológica a medida
  • Búsquedas retrospectivas
  • Boletines de Vigilancia Tecnológica

Formularios

Tasas 2011

Otras Informaciones

  • Estadísticas
  • Centros Regionales de Información en Propiedad Industrial
  • Legislación y Jurisprudencia
  • Ayudas
  • Empleo
  • Perfil del Contratante
  • Aula de Propiedad Industrial
  • Internacionalizacion / Transferencia de Tecnología
  • Enlaces y direcciones de interés
  • Autodiagnóstico PI: IPscore
  • Patent Prosecution Highway
Logotipo AENOR: Vigilancia Tecnológica: SVT-0005/2008 - Empresa Registrada: ER-1225/2007. Acceso a certificación de www.oepm-calidad.es Logotipo IQNET: Acceso a certificación de www.oepm-calidad.es
  • Ministerio de Industria, Turismo y Comercio
  • Buzón del ciudadano
  • Aviso legal
  • Accesibilidad
© 2009 Oficina Española de Patentes y Marcas