Oficina española de Patentes y Marcas

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Harremanetarako
  • Web mapa
minetur OEPM
Sede Electrónica
    Educación y PI
  • HASIERA
  • Marka eta Izen
    Komertzialak
  • ASMAKUNTZAK
  • Diseinu Industrialak
  • Jabetza Industrialari
  • PMEBri buruz
  • Informazio teknologikoa
  • Hemen zaude :
  • Jabetza Industrialari
  • Enlaces de interés
  • Información de Patentes en Internet
  • Información de Patentes en Internet
    • Inprimakiak
    • Tasak
    • Asmakizunen kontsulta
      • Invenes
      • Espacenet
      • Latipat-Espacenet
      • PATENTSCOPE®
      • Nazioarteko Patente Sailkapena
    • Consulta de marcas registradas
      • Marka lokalizatzailea
      • TMView
      • Produktuen eta Zerbitzuen Nazioarteko Sailkapena
    • Consulta de diseños
      • Invenes
      • RCD-Online
      • Hague-Express
    • Información Tecnológica
    • Jabetza Industrialari
    • Beneficios de proteger Signos Distintivos, Invenciones y Diseños
    • Argitalpenak
    • Araudia
    • Jurisprudencia
    • Protección internacional
    • Agentes de la propiedad industrial
    • Preguntas más frecuentes
    • Ponencias

Información de Patentes en Internet

  • BASES DE DATOS COS (Community of Science): Bases de datos bibliográfica que contiene 1.7 millones de patentes USA desde 1975
  • BASES DE DATOS DE LA OFICINA CANADIENSE (CIPO): Acceso a más de 1.300.000 documentos de patentes Canadienses desde 1978 hasta nuestros días, una base de datos bibliográficos y una base de datos de imágenes desde 1920 hasta nuestros días
  • BASES DE LA OFICINA NORTEAMERICANA (USPTO): Texto completo de patentes USA desde 1976 hasta la actualidad, una base de datos bibliográficos y resúmenes de patentes USA desde 1976
  • Business and Patents
  • CLASIFICACIÓN AMERICANA: Clases de la clasificación norteamericana de patentes
  • CLASIFICACIÓN INTERNACIONAL DE PATENTES (CIP): Texto completo oficial en inglés y francés de la última edición de la Clasificación Internacional de Patentes.
  • CLASIFICACIÓN INTERNACIONAL DE PATENTES EN 5 IDIOMAS: Clasificación internacional (versión no oficial) de patentes en español, inglés, francés, alemán e italiano hasta el nivel de grupo principal
  • CHEMICAL PATENT PLUS: Texto completo de patentes norteamericanas desde 1975, y parcialmente en las de los años 19071-1974
  • Foro de tecnología donde compañías de I+D, inventores individuales y en general titulares de Propiedad Industrial e Intelectual, ofrecen y venden tecnología, licencias, etc.
  • FREEPATENTSONLINE: Acceso gratuíto a patentes europeas y americanas.

páginas de agenda

  • OrriaAurrekoa
  • Orria 1
  • Orria 2
  • Orria 3
  • OrriaHurrengoa

Enlaces de interés

Laguntzak eta diru-laguntzak

Kontratatzailearen profila

Beste informazio batzuk

  • Estatistikak
  • Jabetza Industrialeko Eskualde Zentroak
  • Enplegua
  • Jabetza Industrialaren Ikasgela
  • Internazionalizazioa-PPH
  • Transferentzia teknologikoa
  • Estekak eta helbide interesgarriak

OEPMko atariak

  • imagen de Kalitatea Kalitatea
  • imagen de Stopfalsificaciones Stopfalsificaciones
  • imagen de Artxibo Historikoa eta Museoa Artxibo Historikoa eta Museoa
  • imagen de CEVIPYME CEVIPYME

OEPM en la red

  • imagen de RSS
  • imagen de mI+D
  • imagen de YouTube
  • imagen de Scribd
  • imagen de Facebook
  • imagen de Twitter

Campañas

imagen de Marcas tu futuro imagen de Yo soy original imagen de Yo soy original

Suscripción a información

Darme de alta
  • Cátedra Carlos Fernández-Nóvoa
  • Boletines Vigilancia Tecnológica
  • PPH

Otra información

Powered by OpenCMS
  • Herritarraren postontzia
  • Legezko abisua
  • Irisgarritasuna
Aenor IQNet