Oficina española de Patentes y Marcas
Bienvenido
Benvinguts
Benvidos
Ongi etorri
Welcome
Harremanetarako
Web mapa
Sede Electrónica
HASIERA
Marka eta Izen
Komertzialak
ASMAKUNTZAK
Diseinu Industrialak
Jabetza Industrialari
PMEBri buruz
Informazio teknologikoa
Hemen zaude :
Jabetza Industrialari
Inprimakiak
Produktu erdieroaleen topografiak
Inprimakiak
Tasak
Asmakizunen kontsulta
Invenes
Espacenet
Latipat-Espacenet
PATENTSCOPE®
Nazioarteko Patente Sailkapena
Consulta de marcas registradas
Marka lokalizatzailea
TMView
Produktuen eta Zerbitzuen Nazioarteko Sailkapena
Consulta de diseños
Invenes
RCD-Online
Hague-Express
Información Tecnológica
Jabetza Industrialari
Beneficios de proteger Signos Distintivos, Invenciones y Diseños
Argitalpenak
Araudia
Jurisprudencia
Protección internacional
Agentes de la propiedad industrial
Preguntas más frecuentes
Ponencias
Produktu erdieroaleen topografiak
Formulario bilatzailea
Modalitatea:
aukeratu modalitatea
Markak
Merkataritza Izenak
Patenteak
Baliagarritasun ereduak
Diseinu Industrialak
Ziurtagiri osagarriak
Topografiak
Ordainketak
Agente eta mandatariak
Terminoa:
Bilaketaren emaitzak
Solicitud de topografía de un producto semiconductor
Instancia de solicitud de Topografía de un producto semiconductor - TP2
Tramitación de la topografía
Contestación a objeciones - 3007
Otros formularios
Solicitud de certificación - 3510X
Solicitud de devolución ingresos indebidos - 3004X
páginas
Orria
Aurrekoa
Orria
1
Orria
Hurrengoa
Enlaces de interés
Laguntzak eta diru-laguntzak
Kontratatzailearen profila
Beste informazio batzuk
Estatistikak
Jabetza Industrialeko Eskualde Zentroak
Enplegua
Jabetza Industrialaren Ikasgela
Internazionalizazioa-PPH
Transferentzia teknologikoa
Estekak eta helbide interesgarriak
OEPMko atariak
Kalitatea
Stopfalsificaciones
Artxibo Historikoa eta Museoa
CEVIPYME
OEPM en la red
Campañas
Suscripción a información
Darme de alta
