Oficina española de Patentes y Marcas
Bienvenido
Benvinguts
Benvidos
Ongi etorri
Welcome
Harremanetarako
Web mapa
Sede Electrónica
   
HASIERA
Marka eta Izen
Komertzialak
ASMAKUNTZAK
Diseinu Industrialak
Jabetza Industrialari
PMEBri buruz
Informazio teknologikoa
Hemen zaude :
Jabetza Industrialari
Ponencias
Inprimakiak
Tasak
Asmakizunen kontsulta
Invenes
Espacenet
Latipat-Espacenet
PATENTSCOPE®
Nazioarteko Patente Sailkapena
Consulta de marcas registradas
Marka lokalizatzailea
TMView
Produktuen eta Zerbitzuen Nazioarteko Sailkapena
Consulta de diseños
Invenes
RCD-Online
Hague-Express
Información Tecnológica
Jabetza Industrialari
Beneficios de proteger Signos Distintivos, Invenciones y Diseños
Argitalpenak
Araudia
Jurisprudencia
Protección internacional
Agentes de la propiedad industrial
Preguntas más frecuentes
Ponencias
Ponencias
Bilaketaren emaitzak
Segundo Seminario Regional sobre Propiedad Intelectual para Jueces y Fiscales de América Latina. (Madrid, 25 a 28 de noviembre de 2003; Munich, del 1 al 5 de diciembre de 2003)
Bilaketaren emaitzak
Primer Seminario Regional sobre Propiedad Industrial para Jueces y Fiscales de América Latina. (Madrid, del 18 al 22 de noviembre de 2002)
Bilaketaren emaitzak
Babesa eta Sarearen bidez berrikuntzarako irisbidea: Aurrerapen teknologikorako ingurunea. Patenteak, markak eta diseinuak. (Madril, 2002ko maiatzaren 6a eta 7a)
Bilaketaren emaitzak
Seminario: "La nueva Ley de Marcas de 2001". (Madrid 17 y 18 de diciembre de 2001)
páginas
Orria
Aurrekoa
Orria
7
Orria
8
Orria
9
Orria
10
Orria
11
Orria
Hurrengoa
Enlaces de interés
Laguntzak eta diru-laguntzak
Kontratatzailearen profila
Beste informazio batzuk
Estatistikak
Jabetza Industrialeko Eskualde Zentroak
Enplegua
Jabetza Industrialaren Ikasgela
Internazionalizazioa-PPH
Transferentzia teknologikoa
Estekak eta helbide interesgarriak
OEPMko atariak
Kalitatea
Stopfalsificaciones
Artxibo Historikoa eta Museoa
CEVIPYME
OEPM en la red
Campañas
Suscripción a información
Darme de alta