Oficina española de Patentes y Marcas

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Harremanetarako
  • Web mapa
minetur OEPM
Sede Electrónica
    Educación y PI
  • HASIERA
  • Marka eta Izen
    Komertzialak
  • ASMAKUNTZAK
  • Diseinu Industrialak
  • Jabetza Industrialari
  • PMEBri buruz
  • Informazio teknologikoa
  • Hemen zaude :
  • PMEBri buruz
  • Nazioarteko lankidetza
  • Cursos
    • Nor gara
    • Antolakuntza egitura
    • OEPM-Calidad
    • Jardueren memoriak eta estatistikak
    • Nazioarteko lankidetza
    • Cooperación con Latinoamérica
    • Albisteak
    • Agenda
    • Prentsa-oharrak
    • Videoteca
    • Folletos Divulgativos
    • Jabetza industrialaren ikasgela
    • Advertencias OEPM
    • Foro de Innovación y Patentes
    • Xaflen Salmenta

Cursos

Bilaketaren emaitzak

  • 5 de mayo-29 de junio. V Curso sobre Gestión y Evaluación de Patentes.

  • 22 de junio al 5 de julio 2008. Seminario Práctico Interregional Sobre Marcas y Aspectos Comunes de la Propiedad Industrial.

  • 22 de septiembre-16 de noviembre. IV Curso sobre Gestión y Evaluación de Marcas.

  • 15-19 de diciembre. Curso de Formación en materia de Patentes para Funcionarios Iberoamericanos

páginas

  • OrriaAurrekoa
  • Orria 2
  • Orria 3
  • Orria 4
  • Orria 5
  • Orria 6
  • OrriaHurrengoa

Enlaces de interés

Laguntzak eta diru-laguntzak

Kontratatzailearen profila

Beste informazio batzuk

  • Estatistikak
  • Jabetza Industrialeko Eskualde Zentroak
  • Enplegua
  • Jabetza Industrialaren Ikasgela
  • Internazionalizazioa-PPH
  • Transferentzia teknologikoa
  • Estekak eta helbide interesgarriak

OEPMko atariak

  • imagen de Kalitatea Kalitatea
  • imagen de Stopfalsificaciones Stopfalsificaciones
  • imagen de Artxibo Historikoa eta Museoa Artxibo Historikoa eta Museoa
  • imagen de CEVIPYME CEVIPYME

OEPM en la red

  • imagen de RSS
  • imagen de mI+D
  • imagen de YouTube
  • imagen de Scribd
  • imagen de Facebook
  • imagen de Twitter

Campañas

imagen de Marcas tu futuro imagen de Yo soy original imagen de Yo soy original

Suscripción a información

Darme de alta
  • Cátedra Carlos Fernández-Nóvoa
  • Boletines Vigilancia Tecnológica
  • PPH

Otra información

Powered by OpenCMS
  • Herritarraren postontzia
  • Legezko abisua
  • Irisgarritasuna
Aenor IQNet