Oficina española de Patentes y Marcas

  • Bienvenido
  • Benvinguts
  • Benvidos
  • Ongi etorri
  • Welcome
  • Contacto
  • Mapa da páxina
minetur OEPM
Sede Electrónica
    Educación y PI
  • INICIO
  • Marcas e
    Nomes comerciais
  • INVENCIÓNS
  • Os Deseños Industriais
  • Propiedade industrial
  • Sobre a OEPM
  • Información tecnolóxica
  • Estás en :
  • Invencións
  • Procura simple
  • Patentes nacionaisque es
    • Manual do solicitante

    • Taxas e formularios
    • Trámites en liña
    • Normativa
    • Folletos
    • Máis información
    • Directrices de exame de Solicitudes de Patente
    • Programa para a concesión acelerada dunha patente nacional (CAP)
  • Modelo de utilidadeque es
    • Manual do solicitante

    • Taxas e formularios
    • Trámites en liña
    • Normativa
    • Folletos
    • Recomendacións
    • Directrices de Tramitación de modelos de utilidad.
  • Topografías de Produtos Semicondutoresque es
    • Taxas e formularios
    • Trámites en línea
    • Normativa
    • Folletos
  • Certificados complementarios de protecciónque es
    • Taxas e formularios
    • Normativa
    • Máis información
  • Solicitudes internacionais PCTque es
    • Taxas e formularios
    • Trámites en liña
    • Normativa
    • Folletos
    • Directrices de procura internacional e de exame preliminar internacional PCT
    • Recomendacións
  • Patente Europeaque es
    • Taxas e formularios
    • Trámites en liña
    • Normativa
    • Folletos
    • Recomendacións
    • Validación
  • Ferramentasque es
    • IPscore
    • Clasificación Internacional de Patentes (CIP)
    • Manual do inventor da OEP
    • Información tecnolóxica

Invencións

Invencións

  • Procura simple
  • Procura avanzada
  • Procura por número de expediente
    • Consulta de invenciones
    • Otras Búsquedas

      • Invenes
      • Espacenet
      • Latipat-Espacenet
      • PATENTSCOPE®
      • Expedientes digitalizados
      • Búsqueda GSA de invenciones
      • Datos con acceso abierto (Open Data)
      • CCD: Búsqueda de citaciones
    • Ferramentas

      • Clasificación Internacional de Patentes (CIP)
      • Manual do inventor da OEP
      • IPScore
      • Información tecnolóxica
    • Preguntas frecuentes

      • ¿Como se pode obter unha patente con efectos en España?
      • ¿Como podo protexer unha patente no estranxeiro?
      • ¿Por que procedementos de tramitación pode optar o solicitante para chegar á concesión dunha patente en España?
      • ¿Que requisitos son necesarios para obter unha patente ou un modelo de utilidade?
      Ver todas
    • Ligazóns de interese

      • Información de patentes en Internet
      • Patentes de biotecnoloxía
    • Noticias sobre invencións

      • 14-03-2013

        El Consejo Asesor de la EPO publica recomendaciones para mejorar el sistema de patentes.
         
      • 12-03-2013

        Nuevo servicio de información de la OEPM.
         

Enlaces de interés

Axudas e subvencións

Perfil do Contratante

Outras Informacións

  • Estatísticas
  • Centros Rexionais de Información en Propiedade Industrial
  • Emprego
  • Aula de Propiedade Industrial
  • Internacionalización-PPH
  • Transferencia de Tecnoloxía
  • Ligazóns e enderezos de interese

Portais OEPM

  • imagen de Calidade Calidade
  • imagen de Stopfalsificaciones Stopfalsificaciones
  • imagen de Arquivo Histórico e Museo Arquivo Histórico e Museo
  • imagen de CEVIPYME CEVIPYME

OEPM en la red

  • imagen de RSS
  • imagen de mI+D
  • imagen de YouTube
  • imagen de Scribd
  • imagen de Facebook
  • imagen de Twitter

Campañas

imagen de Marcas tu futuro imagen de Yo soy original imagen de Yo soy original

Suscripción a información

Darme de alta
  • Boletines Vigilancia Tecnológica
  • Cátedra Carlos Fernández-Nóvoa
  • Escuela de Organización Industrial

Otra información

Powered by OpenCMS
  • Caixa de correo do cidadán
  • Aviso Legal
  • Accesibilidade
Aenor IQNet